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失效分析
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失效分析
时间:2024-10-16    浏览人次:


一、概述

    失效机制是导致零件、元器件和材料失效的物理或化学过程。此过程的诱发因素有内部的和外部的。在研究失效机制时,通常先从外部诱发因素和失效表现形式入手,进而再研究较隐蔽的内在因素。在研究批量性失效规律时,常用数理统计方法,构成表示失效机制、失效方式或失效部位与失效频度、失效百分比或失效经济损失之间关系的排列图或帕雷托图,以找出必须首先解决的主要失效机制、方位和部位。任一产品或系统的构成都是有层次的,失效原因也具有层次性,如系统-单机-部件(组件)-零件(元件)-材料。上一层次的失效原因即是下一层次的失效现象。越是低层次的失效现象,就越是本质的失效原因。

   失效分析在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义,是根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。方法分为无损检测化学成分分析力学性能分析硬度测试金相分析断口分析异物分析腐蚀分析等。

二、检测目的

失效分析检测是指对产品或组件在失效后进行的一系列科学分析,以确定失效的原因和机理。通过这一过程,企业能够识别和纠正产品设计和制造中的缺陷,从而提高产品的整体质量和可靠性。此外,失效分析检测有助于企业遵守相关法规和标准,减少召回和退货的风险,最终降低经济损失。


· 提高产品质量:通过失效分析,可以发现产品设计和制造过程中的缺陷,从而提高产品的整体质量。

· 延长产品寿命:通过分析失效原因,可以采取措施延长产品的使用寿命

· 降低维护成本:预防性维护和改进措施可以减少产品在使用过程中的故障率,降低维护成本

· 增强市场竞争力:提高产品的可靠性和性能,增强产品的市场竞争力。


三、检测项目

无损检测NTD:
流检测(ECT)、射线照相检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT)五种。其他无损检测方法:声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。
化学成分分析:
火花直读光谱仪(OES)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)、能谱分析(EDS)、X射线荧光光谱仪(XRF)、碳硫分析仪、氧氮氢分析仪、XRD测试。
力学性能分析:
拉伸测试、冲击测试、弯曲测试、压扁/扩口/卷边测试、剪切测试、压缩测试
硬度测试:

布氏硬度、洛氏硬度、维氏硬度、显微维氏硬度、努氏硬度

金相切片:

金相组织、晶粒度、非金属夹杂物、镀层厚度、宏观检测

断口分析:

体视显微镜分析、扫描电镜分析

异物分析:
扫描电子显微镜-能谱仪(SEM-EDS)

腐蚀分析:

中性盐雾试验、酸性盐雾试验AASS、铜离子加速盐雾试验CASS、循环盐雾试验、晶间腐蚀、黄铜耐脱锌腐蚀试验

四、检测范围



金属

金属材料的失效分析主要是通过力学性能检测、金相检测、SEM、成分分析对金属进行诊断,了解失效原因。

例:对于疲劳断裂的金属部件,分析其裂纹扩展路径和断口形貌,可以判断是应力集中、材料缺陷还是环境因素导致的失效。基于这些分析结果,可以优化金属材料的成分设计、热处理工艺和加工方法,从而提高金属制品的可靠性和使用寿命。




元器件

涉及电测试、物理、化学手段、确定失效模式,机理及原因,以提高产品可靠性,优化设计与制造工艺。

例:对于集成电路的失效分析,可能需要借助显微切割、芯片去封装和扫描电子显微镜等技术,观察芯片内部的微观结构和缺陷。通过分析失效元器件的制造工艺、使用环境和应力状态等因素,可以提出改进措施,如优化电路设计、提高封装质量、改善散热条件等,以确保电子产品的稳定性和可靠性。




材料

高分子材料、复合材料、涂层材料、借助各种测试分析技术及设备,分辨失效模式和失效机理,确认最终失效原因。

例:对于高分子材料的老化失效分析,可以通过红外光谱、热重分析等方法研究材料的化学结构变化;通过拉伸试验、冲击试验等力学性能测试评估材料的强度、韧性等性能变化。基于这些分析结果,可以提出改善材料配方、优化加工工艺、提高使用环境适应性等改进措施,以提升材料的整体性能和使用寿命。


失效分析检测是确保产品可靠性的重要手段,它通过科学的分析方法帮助工程师理解产品失效的原因,并提出有效的改进措施。随着技术的发展,失效分析检测的方法和工具也在不断进步,为产品的质量控制和可靠性提升提供了强有力的支持。

 

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